IEC 60749-34:2005
半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

2010-10

 

 

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标准号
IEC 60749-34:2005
发布
2005年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60749-34:2010
当前最新
IEC 60749-34:2010
 
 
适用范围
用于确定半导体器件对由于内部半导体芯片和内部连接器的功率耗散循环而产生的热应力和机械应力的抵抗力。当正向传导的低电压工作偏置时会发生这种情况

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