DIN EN 60749-23:2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期(IEC 60749-23-2004 + A1-2011).德文版本EN 60749-23-2004 + A1-2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004 + A1:2011); German version EN 60749-23:2004 + A1:2011
- 标准号
- DIN EN 60749-23:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 60749-23:2011-07
- 当前最新
- DIN EN 60749-23:2011-07
- 引用标准
- IEC 60747 IEC 60749-34
- 被代替标准
- DIN EN 60749-23:2004 DIN EN 60749-23/A1:2009
DIN EN 60749-23:2011相似标准
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