DIN EN 1071-4-2006
高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分

Advanced technical ceramics - Methods of test for ceramic coatings - Part 4: Determination of chemical composition by electron probe microanalysis (EPMA) English version of DIN EN 1071-4:2006-05

DIN EN 1071-4-2006 发布历史

The European Standard specifies methods for chemical analysis of ceramic coatings by means of electron probe microanalysis (EPMA) using a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser. The methods specified are limited to the examination of single layer coatings when the analysis is carried out normal to the sample surface, but graded and multilayer coatings may also be analysed in cross-section if the thickness of the individual layers or gradations are greater than the maximum width of the volume of material within which characteristic or fluorescent X-rays are generated.#,,#

DIN EN 1071-4-2006由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2006-05。

DIN EN 1071-4-2006 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷，在国际标准分类中归属于: 81.060.30 高级陶瓷。

DIN EN 1071-4-2006 发布之时，引用了标准

• EN 623-4 高级工业陶瓷.整块陶瓷.一般性能和结构性能.第4部分:表面粗糙度的测定;代替ENV 623-4-1993*， 2022-07-17 更新
• EN ISO/IEC 17025 *， 2017-12-01 更新
• ISO 14594 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南*， 2014-10-01 更新
• ISO 15632 *， 2021-01-31 更新

* 在 DIN EN 1071-4-2006 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

DIN EN 1071-4-2006的历代版本如下：

• 2006年05月 DIN EN 1071-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析(EPMA)测量化学成分

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标准号

DIN EN 1071-4-2006

发布日期

2006年05月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

Q32

国际标准分类号

81.060.30

发布单位

DE-DIN

引用标准

EN 623-4 EN ISO/IEC 17025 ISO 14594 ISO 15632

被代替标准

DIN V ENV 1071-4-1995 DIN EN 1071-4-2004

适用范围

The European Standard specifies methods for chemical analysis of ceramic coatings by means of electron probe microanalysis (EPMA) using a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser. The methods specified are limited to the examination of single layer coatings when the analysis is carried out normal to the sample surface, but graded and multilayer coatings may also be analysed in cross-section if the thickness of the individual layers or gradations are greater than the maximum width of the volume of material within which characteristic or fluorescent X-rays are generated.#,,#

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