NF X21-005-2006
微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification.

NF X21-005-2006 发布历史

NF X21-005-2006由法国标准化协会 FR-AFNOR 发布于 2006-04-01，并于 2006-04-05 实施。

NF X21-005-2006 在中国标准分类中归属于: N32 放大镜与显微镜，在国际标准分类中归属于: 37.020 光学设备。

NF X21-005-2006的历代版本如下：

• 2006年04月01日 NF X21-005-2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 NF X21-005-2006 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

NF X21-005-2006

发布日期

2006年04月01日

实施日期

2006年04月05日

废止日期

无

中国标准分类号

N32

国际标准分类号

37.020

发布单位

FR-AFNOR