NF X21-005-2006
微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification.

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标准号

NF X21-005-2006

发布日期

2006年04月01日

实施日期

2006年04月05日

废止日期

无

中国标准分类号

N32

国际标准分类号

37.020

发布单位

FR-AFNOR