IEC 61967-4:2006
集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射测量.第4部分:电导辐射测量.1～150Ω直接耦合法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions; 1 /150 direct coupling method
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- 标准号
- IEC 61967-4:2006
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 61967-4:2002/AMD1:2006
- 当前最新
- IEC 61967-4:2021 RLV
- IEC 61967 的这一部分规定了一种通过使用 1 Ω 电阻探头直接测量射频 (RF) 电流和使用 150 Ω 耦合网络测量 RF 电压来测量集成电路传导电磁发射 (EME) 的方法。这些方法保证了 EME 测量的高度可重复性和相关性。 IEC 61967-1 规定了测试方法的一般条件和定义。
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