IEC PAS 62483:2006
测量锡和锡合金表面须晶生长的试验方法

Test method for measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes

作废

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标准号

IEC PAS 62483:2006

发布

2006年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC PAS 62483:2006

 

 

代替标准

IEC 62483:2013

适用范围

本文件中介绍的方法（工艺流程见附录 A）适用于研究主要含有锡 (Sn) 的饰面中锡晶须的生长。该测试方法可能不足以满足有特殊要求的应用，例如军事或航空航天。附加要求可以在适当的要求文件中指定。本 PAS 的目的是： ?提供行业标准化的测试套件，用于测量和比较不同电镀或表面处理化学品和工艺的晶须倾向。 ？为锡晶须检查提供一致的检查协议。 ？提供标准的报告格式。

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