SJ 2658.9-1986
半导体红外发光二极管测试方法.辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for the intensity space distribution and half-intensity angle of radiation
2016-04
- 标准号
- SJ 2658.9-1986
- 发布单位
- 行业标准-电子
- 替代标准
- SJ/T 2658.9-2015
- 当前最新
- SJ/T 2658.9-2015
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