GJB 4027A-2006
军用电子元器件破环性物理分析方法
Methods of destructive physical analysis for military electronic components
2022-03
GJB 4027A-2006 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- GJB 4027A-2006
- 发布
- 2006年
- 发布单位
- 国家军用标准-总装备部
- 替代标准
- GJB 4027B-2021
- 当前最新
- GJB 4027B-2021
- 引用标准
- GJB 101A-1997 GJB 142A-1994 GJB 33A-1997 GJB 63B-2001 GJB 65B-1999
- 被代替标准
- GJB 4027-2000
- 本标准规定了军用电子元器件破坏性物理分析（DPA）的通用方法，包括DPA程序的一般要求以及典型电子元器件DPA试验与分析的通用方法和缺陷判据。 本标准适用于有DPA要求的军用电子元器件。
GJB 4027A-2006相似标准
推荐
GJB 4027A-2006 中可能用到的仪器设备
谁引用了GJB 4027A-2006 更多引用
GJB 4157/8-2011 CTS411206型高可靠无引线片式2类多层瓷介固定电容器详细规范
GJB 1648/2-2011 ZC547(ZWB-1)型温补晶体振荡器详细规范
GJB 2888/4-2011 3JGM-2K型电磁继电器详细规范
GJB 4157/13-2011 CCS405型高可靠有引线1类多层瓷介固定电容器详细规范
GJB 33/18-2011 半导体光电子器件 GO417型双向半导体光电耦合模拟开关详细规范
GJB 4157/2-2011 CCS411206型高可靠无引线片式1类多层瓷介固定电容器详细规范
GJB 7400-2011 合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范
GJB 33/23-2011 半导体光电子器件 GH3201Z-4型光电耦合器详细规范
GJB 4157/7-2011 CTS410805型高可靠无引线片式2类多层瓷介固定电容器详细规范
GJB 1648/1-2011 ZA511(ZPB-5)型晶体振荡器详细规范