薄膜厚度测量系统TF200
tel: 400-6699-117 转 7739沈阳科晶涂镀层及薄膜测厚仪, TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表......
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产品型号: TF200
品牌:沈阳科晶
产品产地:辽宁
产品类型:国产
原制造商:沈阳科晶
状态:在售
厂商指导价格: 1~5万元[人民币]
上市时间: 2014-03-05
英文名称: TF200
优点:TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光,用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm,可同时完成多层膜厚的测试。
参考成交价格: 1~5万元[人民币]
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