JEDEC JEP121A-2006
微电子闪变和测试优化要求

Requirements for Microelectronic Screening and Test Optimization

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标准号

JEDEC JEP121A-2006

发布

2006年

发布单位

(美国)固态技术协会,隶属EIA

 

 

适用范围

本文件定义了 MIL-PRF-38535 Q 类和 V 类微电路的 MIL-PRF-38535 筛选和测试要求的优化方法（消除、减少或替代方法）。该方法的本质是将“在线过程控制”和“SPC”技术应用于适用的制造过程。本文件包括测试和筛选优化的初始批准和后续维护流程。

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