JEDEC JESD51-1-1995
集成电路热测方法-电测方法(单半导体器件)

Integrated Circuit Thermal Measurement Method - Electrical Test Method (Single Semiconductor Device)


标准号
JEDEC JESD51-1-1995
发布
1995年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
适用范围
本文描述的测量方法同样适用于热测试芯片和有源互连电路器件。热测试芯片由集成到半导体芯片中的热源和温度传感器组成,通常用于封装热表征工作,特别是在将一个封装与另一个封装进行比较时。当需要特定的面向应用的规范信息时,使用以接近预期应用的主动模式运行的集成电路器件。

JEDEC JESD51-1-1995相似标准


推荐

芯片产业链上市公司盘点之封装测试与封设备篇

台积、中芯国际、华虹半导体OSAT仅负责封装测试环节;同时为多家设计公司提供封服务。...

手动探针台用途

  探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。手动探针台的主要用途是为半导体芯片的参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。...

干货|微电子器件显微试样制备技术

以上这些统统是属于半导体的范畴。高精度芯片产业发展困难重重集成电路工序多、种类多、换代快、投资大简单的讲,电子制造产业包括:原材料砂子-硅片制造-晶圆制造-封装测试-基板互联-仪器设备组装。集成电路产业链主要为设计、制造、封以及上游的材料和设备。          以台积为例,晶圆制造的制程每隔几年便会更新换代一次。近几年来换代周期缩短,台积2017年10nm已经量产,7nm将于今年量产。...

探针台选型需要注意事项”你知道吗?

  探针台是一种很专业的仪器,它主要的功能就是针对半导体元件进行检测,这里面说的半导体元件指的是集成电路,分立器件,光电器件,传感器等元件以及封装的测试。通过探针台配合测量仪器可完成集成电路的电压,电流,电阻和电容电压特性曲线等参数检测。可以适用于对芯片进行科研分析,抽查检测等;可以保证这些半导体元件的质量,缩短研发时间和器件制作工艺的成本,所以,它的存在对于制造半导体的企业来说是非常重要的。  ...


JEDEC JESD51-1-1995 中可能用到的仪器设备


谁引用了JEDEC JESD51-1-1995 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号