JEDEC JESD63-1998
极端电路密度和温度的电迁移模型参数的标准方法

Standard Method for Calculating the Electromigration Model Parameters for Current Density and Temperature

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标准号

JEDEC JESD63-1998

发布日期

1998年02月01日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L55

发布单位

US-JEDEC

适用范围

Electromigration is a failure mechanism of electrical interconnects that is of great concern, especially for the reliability assessment of very large scale integrated (VLSI) microelectronics. The drivers of the electromigration process in Black's equation are the current density and the temperature.