JEDEC JESD63-1998
极端电路密度和温度的电迁移模型参数的标准方法
Standard Method for Calculating the Electromigration Model Parameters for Current Density and Temperature
- 标准号
- JEDEC JESD63-1998
- 发布
- 1998年
- 发布单位
- (美国)固态技术协会,隶属EIA
- 适用范围
- 电迁移是一种备受关注的电气互连失效机制，特别是对于超大规模集成（VLSI）微电子器件的可靠性评估。布莱克方程中电迁移过程的驱动因素是电流密度和温度。
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