JEDEC JESD89A-2006
阿尔法粒子和陆地宇宙光的测量和传送 导致在半导体设备中的轻微错误

Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices


JEDEC JESD89A-2006 中,可能用到以下仪器设备

 

DNA800超微量核酸蛋白测定仪

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

暗箱式三用紫外分析仪

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保定兰格恒流泵有限公司

 

紫外交联仪

紫外交联仪

北京中科科尔仪器有限公司

 

杂交/紫外交联仪

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北京中科科尔仪器有限公司

 

LabChip DS微流控紫外可见全光谱分析仪

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珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司PerkinElmer

 

NanoTemper Tycho NT.6蛋白品质分析仪

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NanoTemper诺坦普科技(北京)有限公司

 

Eppendorf艾本德BioPhotometer D30核酸蛋白测定仪

Eppendorf艾本德BioPhotometer D30核酸蛋白测定仪

艾本德中国有限公司(Eppendorf)

 

BioPhotometer plus 核酸蛋白测定仪

BioPhotometer plus 核酸蛋白测定仪

艾本德中国有限公司(Eppendorf)

 

Eppendorf艾本德BioSpectrometer basic分光光度计

Eppendorf艾本德BioSpectrometer basic分光光度计

艾本德中国有限公司(Eppendorf)

 

Colibri LB 915超微量分光光度计

Colibri LB 915超微量分光光度计

科瑞恩特(北京)科技有限公司

 

标准号
JEDEC JESD89A-2006
发布
2006年
发布单位
(美国)固态技术协会,隶属EIA
 
 
软错误是由高能离子撞击引起的非破坏性功能错误。软错误是单事件效应 (SEE) 的子集,包括单事件翻转 (SEU)、多位翻转 (MBU)、单事件功能中断 (SEFI)、单事件瞬态 (SET),如果被锁存,成为 SEU 和单事件闩锁 (SEL),其中 CMOS 阱中寄生双极作用的形成会导致电源和接地之间形成低阻抗路径,从而产生高电流条件(SEL 也可能导致潜在错...

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