JEDEC JESD89A-2006
阿尔法粒子和陆地宇宙光的测量和传送导致在半导体设备中的轻微错误

Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices

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标准号: JEDEC JESD89A-2006
发布: 2006年
发布单位: (美国)固态技术协会,隶属EIA

软错误是由高能离子撞击引起的非破坏性功能错误。软错误是单事件效应 (SEE) 的子集，包括单事件翻转 (SEU)、多位翻转 (MBU)、单事件功能中断 (SEFI)、单事件瞬态 (SET)，如果被锁存，成为 SEU 和单事件闩锁 (SEL)，其中 CMOS 阱中寄生双极作用的形成会导致电源和接地之间形成低阻抗路径，从而产生高电流条件（SEL 也可能导致潜在错...

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