ISO 10110-14:2007
光学和光子学.光学元件和系统的制图准备.第14部分:波阵面变形公差
Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 14: Wavefront deformation tolerance
哪些标准引用了ISO 10110-14:2007
DIN ISO 14999-4:2016 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2015)DIN ISO 10110-5:2016 光学和光子学.光学元件和系统的图形制备.第5部分:表面形状公差(ISO 10110-5-2015)NF S10-008-19*NF ISO 10110-19:2015 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 第19部分: 表面和部件的通用描述BS ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.表面形状公差ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定BS ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.ISO 10110中指定公差的注释和评定BS ISO 10110-19:2015 光学和光子学. 光学元件和系统用图纸的编制. 表面和部件的通用描述ISO 10110-19:2015 光学和光子学 - 准备光学元件和系统的图纸 - 第19部分:表面和部件的概述DIN ISO 14999-4:2008 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2007).英文版本DIN ISO 14999-4-2008ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
- 标准号
- ISO 10110-14:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 10110-14:2018
- 当前最新
- ISO 10110-14:2018
- 引用标准
- ISO 10110-1:2006 ISO 14999-4:2007 ISO/TR 14999-2
- ISO 10110 系列适用于在用于制造和检验的技术图纸中描述光学元件和组件的设计和功能要求。 ISO 10110 的这一部分给出了指示通过光学元件或组件透射的波前的允许变形的规则，或者在反射光学器件的情况下，从光学元件或组件反射的波前的允许变形。 波前的变形是指其偏离所需形状。 波前相对于给定参考表面的倾斜不属于 ISO 10110 本部分的范围。 不要...
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