Applies to high quality approval systems for hybrid integrated circuits and film structures. The purpose of the tests is to perform visual inspections on the internal materials, construction and workmanship of hybrid, multichip and multichip module micro
IEC 60748-23-2-2002由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2002-05。
IEC 60748-23-2-2002 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合,在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
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