DIN 51088:2007
陶瓷原料和基本材料的测试.用发射光谱测定分析和直流电弧中的激励测定碳化硅粉末和颗粒碳化硅中金属微量杂质的质量分率
Testing of ceramic raw and basic materials - Determination of mass fractions of metallic trace impurities in silicon carbide powders and granular silicon carbides by optical emission spectrometry and excitation in the DC arc
- 标准号
- DIN 51088:2007
- 发布
- 2007年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 15979:2011
- 当前最新
- DIN EN 15979:2011
- 适用范围
- 本标准草案规定了采用发射光谱法和直流电弧激发法测定陶瓷原料和基础材料中碳化硅粉末和粒状碳化硅中金属微量杂质的方法。该方法适用于杂质，以主要参数元素、波长、电弧参数和称重样品为准，质量分数约1mg/kg～约3000mg/kg，经复核也可约5000mg/kg。# ,,#
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