EN 15979:2011
陶瓷原料和基本材料的测试.直流电弧激发发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数

Testing of ceramic raw and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by OES by DC arc excitation


 

 

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标准号
EN 15979:2011
发布
2011年
发布单位
欧洲标准化委员会
当前最新
EN 15979:2011
 
 
代替标准
SANS 10324-2007
被代替标准
FprEN 15979-2010
适用范围
本欧洲标准描述了陶瓷原料和基体的粉状和粒状碳化硅中杂质 Al、B、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Ni、Ti、V 和 Zr 质量分数的分析方法。 该应用还可以扩展到其他金属元素和其他类似的非金属粉末和颗粒状材料，例如碳化物、氮化物、石墨、炭黑、焦炭、碳以及许多进一步氧化的原料和材料。 经过适当测试后的基本材料。 注：对于石墨、B4C、BN、WC 和几种难熔金属氧化物等材料存在正干扰。 该测试程序适用于上述杂质的质量分数从大约 1 mg/kg 到大约 3000 mg/kg，核实后。 在某些情况下，根据元素、波长、电弧参数和样品重量，可以将范围扩展到 5000 mg/kg。

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