DIN EN 62374:2008
半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007
- 标准号
- DIN EN 62374:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 62374:2008-02
- 当前最新
- DIN EN 62374:2008-02
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