YS/T 666-2008
工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
Chemical analysis methods of gallium for industrial use.Determination of impurity elements.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
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- 标准号
- YS/T 666-2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 行业标准-有色金属
- 当前最新
- YS/T 666-2008
- 适用范围
- 本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。 本标准适用于工业镓[99.9%≤ω（%）≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。