YS/T 666-2008
工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

Chemical analysis methods of gallium for industrial use.Determination of impurity elements.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

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标准号

YS/T 666-2008

发布日期

2008年03月12日

实施日期

2008年09月01日

废止日期

无

中国标准分类号

H12

国际标准分类号

77.120.99

发布单位

CN-YS

适用范围

本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。 本标准适用于工业镓[99.9%≤ω（%）≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。

YS/T 666-2008 中可能用到的仪器设备