BS IEC 60748-23-2-2002
半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验

Semiconductor devices - Integrated circuits - Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 BS IEC 60748-23-2-2002 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

BS IEC 60748-23-2-2002

发布日期

2002年06月21日

实施日期

2002年06月21日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

GB-BSI

被代替标准

94/216399 DC-1994

适用范围

To be read in conjunction with BS IEC 60748-23-1:2002, BS IEC 60748-23-3:2002, BS IEC 60748-23-4:2002

BS IEC 60748-23-2-2002系列标准