BS IEC 60748-23-2-2002
半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验

Semiconductor devices - Integrated circuits - Hybrid integrated circuits and film structures - Manufacturing line certification - Internal visual inspection and special tests

BS IEC 60748-23-2-2002 发布历史

To be read in conjunction with BS IEC 60748-23-1:2002, BS IEC 60748-23-3:2002, BS IEC 60748-23-4:2002

BS IEC 60748-23-2-2002由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2002-06-21，并于 2002-06-21 实施。

BS IEC 60748-23-2-2002 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

BS IEC 60748-23-2-2002的历代版本如下：

• 2002年06月21日 BS IEC 60748-23-2-2002 半导体器件.集成电路.混合集成电路和薄膜结构.生产线认证.内部目视检查和特殊试验

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标准号

BS IEC 60748-23-2-2002

发布日期

2002年06月21日

实施日期

2002年06月21日

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

GB-BSI

被代替标准

94/216399 DC-1994

适用范围

To be read in conjunction with BS IEC 60748-23-1:2002, BS IEC 60748-23-3:2002, BS IEC 60748-23-4:2002

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