BS EN 60749-4:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.湿热、稳态态、高加速应力试验（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

被代替

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标准号

BS EN 60749-4:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-4:2017

当前最新

BS EN 60749-4:2017

 

 

被代替标准

00/203564 DC-2000 BS EN 60749:1999

适用范围

IEC 60749的这一部分提供了高度加速的温度和湿度应力测试（HAST），用于评估非气密封装半导体器件在潮湿环境中的可靠性。

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