BS EN 60749-13:2002
半导体装置.机械和气候试验方法.盐雾气氛

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Salt atmosphere

2018-04

 

 

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标准号
BS EN 60749-13:2002
发布
2002年
发布单位
英国标准学会
替代标准
BS EN IEC 60749-13:2018
当前最新
BS EN IEC 60749-13:2018
 
 
被代替标准
00/203574 DC-2000 BS EN 60749:1999
适用范围
IEC 60749 的这一部分描述了确定半导体器件耐腐蚀性的盐气氛测试。 这是一项加速测试,模拟恶劣的海岸大气对所有暴露表面的影响。 它仅适用于指定用于海洋环境的设备。 盐气氛试验被认为是破坏性的。 一般来说,该盐气氛试验符合 IEC 60068-2-11,但由于半导体的特殊要求,适用本标准的条款。

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