DS/EN 60749-13/Corr.1-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

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标准号

DS/EN 60749-13/Corr.1-2004

发布日期

2004年02月12日

实施日期

2003年12月23日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

DK-DS

代替标准

JIS X8341-4-2018

适用范围

This part of IEC 60749 describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment.