BS EN 60749-3:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.目视检验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - External visual examination

2017-11

哪些标准引用了BS EN 60749-3:2002

 

找不到引用BS EN 60749-3:2002 半导体器件.机械和气候试验方法.目视检验 的标准

标准号
BS EN 60749-3:2002
发布
2002年
发布单位
英国标准学会
替代标准
BS EN 60749-3:2017
当前最新
BS EN 60749-3:2017
 
 
被代替标准
00/203562 DC-2000 BS EN 60749:1999
IEC 60749 这一部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标记和工艺是否符合适用的采购文件。 外部目视检查是一种非破坏性测试，适用于所有包装类型。 该测试对于鉴定、过程监控或批次验收或两者都有用。

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