BS EN 60749-3:2002
半导体器件.机械和气候试验方法.目视检验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - External visual examination

被代替

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标准号

BS EN 60749-3:2002

发布

2002年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-3:2017

当前最新

BS EN 60749-3:2017

 

 

被代替标准

00/203562 DC-2000 BS EN 60749:1999

适用范围

IEC 60749 这一部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标记和工艺是否符合适用的采购文件。 外部目视检查是一种非破坏性测试，适用于所有包装类型。 该测试对于鉴定、过程监控或批次验收或两者都有用。

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