IEC 60749-38:2008
半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
- 标准号
- IEC 60749-38:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-38:2008
- 被代替标准
- IEC 47/1943/FDIS:2007
- 适用范围
- IEC 60749 的这一部分建立了测量带有存储器的半导体器件在受到 α 辐射等高能粒子影响时的软错误敏感性的程序。描述了两个测试；使用阿尔法辐射源的加速测试和（非加速）实时系统测试，其中在自然发生的辐射（可以是阿尔法或其他辐射（例如中子））的条件下产生任何错误。为了完全表征具有存储器的集成电路的软错误能力，必须使用额外的测试方法对设备进行广泛的高能谱和热中子测试。该测试方法可以应用于任何类型的具有存储器件的集成电路。
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