BS EN 60749-44:2016
半导体器件. 机械和气候试验方法. 半导体设备的中子束照射单粒子效应(SEE)试验方法
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
- 标准号
- BS EN 60749-44:2016
- 发布
- 2016年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 60749-44:2016
- 引用标准
- EN 60749-38 IEC 60749-38 IEC 62396-4 IEC 62396-5 JEITA EDR4705 JESD89-1A JESD89-2A JESD89-3A JESD89-A
BS EN 60749-44:2016相似标准
DIN EN 60749-44:2017-04 半导体器件机械和气候测试方法第44部分：半导体器件中子束辐照单粒子效应（SEE）测试方法
PNS IEC 60749-44:2021 半导体器件.机械和气候试验方法.第44部分：半导体器件的中子束辐照单粒子效应（见）试验方法
DIN EN 60749-44:2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第44部分:半导体设备的中子束照射单粒子效应(SEE)试验方法(IEC 60749-44-2016);德文版本EN 60749-44-2016
QJ 10005-2008 宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南
NF C96-022-44*NF EN 60749-44:2016 半导体器件 机械和气候测试方法 第44部分：半导体器件的中子束辐照单事件效应（SEE）测试方法
推荐
航天元器件抗辐射能力选择
选择抗辐射加固的器件应用在空间辐射环境中，将能提高航天器的可靠性和使用寿命；应用在战略武器中，将能提高其效能和突防能力。空间辐射环境对电子器件主要产生电离辐射总剂量（TID）效应和单粒子效应（SEE）；核辐射环境尤其是核爆炸环境，主要产生瞬时电离辐射总剂量效应、中子辐射效应和电磁脉冲损伤效应。不同的辐射环境对电子器件的影响各不相同，不同类型的电子器件在同一辐射环境中也会有不同的反应。...
潘建伟团队成果入选！《物理世界》公布2022年度十大突破
碰撞可将一个氦8原子核分裂成一个α粒子（两个质子和两个中子）和一个四中子。通过检测反冲的α粒子和氢原子核，团队计算出这四个中子以未结合的四中子状态存在的时间仅为10的负22次方秒。观察结果的统计显著性大于5σ，超过了粒子物理学发现的门槛。该团队计划研究四中子中的单个中子，并寻找包含六个和八个中子的新粒子。...
安全 | 车载功率半导体常见失效机理及案例（封装篇）
【3】结 语以上分析综合使用了物理、化学、金属材料学综合交叉知识，同时使用了金相显微镜、离子研磨CP设备、FIB双束聚焦离子束、透射电镜TEM等高阶分析设备。除设备外，还要求分析人员熟练掌握元器件基本结构、材料，最终结合微区操作物理、化学制样能力。综合以上种种能力才能将半导体器件内部缺陷完美的暴露进而分析。车载功率半导体结合应用电气环境有常见的哪些失效现象？...
图文并茂，来看看全球顶级的科研实验室有哪些
-阿贡-西场所；工程开发实验室；泡沫浮选分离典型试验设备；燃料电池试验设备；燃料调节设备；高温电解炉设备；热性燃料检查设备；辐照材料实验室；激光应用实验室；激光实验室；磁成像设备；磁共振成像设备；溶解腐蚀和冷却能力实验（MACE）；微型质谱仪实验室；毫米波实验室；中子放射照相术反应堆；非破坏性的评估实验室；非破坏性的评估试验负载系统设施；非破坏性的评估显微镜设备；优质煤取样设备；动力系和放射实验室；...