IEC 60749-17:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

被代替

2019-03

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标准号: IEC 60749-17:2003
发布: 2003年
发布单位: 国际电工委员会
替代标准: IEC 60749-17:2019
当前最新: IEC 60749-17:2019

被代替标准: IEC 47/1668/FDIS:2002

适用范围: 用于确定半导体器件在中子环境中退化的敏感性。适用于集成电路和分立半导体器件。

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