IS 7412-1974
半导体器件的寿命测试

Life test of semiconductor devices


说明：

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标准号
IS 7412-1974
发布
1975年
发布单位
IN-BIS
当前最新
IS 7412-1974
 
 
本标准涉及适用于以下目的的半导体器件的寿命测试程序：a）型式批准或型式测试，b）验收测试，以及c）可靠性评估。

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