IS 9807-1981
数字微电路寿命测试

Digital Microcircuit Life Test


 

 

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标准号
IS 9807-1981
发布
1981年
发布单位
IN-BIS
当前最新
IS 9807-1981
 
 
适用范围
本标准涉及数字微电路（双极、MOS 和多芯片电路）的寿命测试程序，适用于以下目的：a) 型式批准或型式测试，b) 验收测试，以及 c) 可靠性评估。

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