IS 4400 Pt.4-1981
半导体器件测量方法第 IV 部分晶体管

Semiconductor Device Measurement Methods Part IV Transistors

半导体器件测量方法第 IV 部分晶体管 不是强制性中国国家标准，您可以免费下载预览页

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 IS 4400 Pt.4-1981 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号: IS 4400 Pt.4-1981
发布: 1983年
发布单位: IN-BIS
当前最新: IS 4400 Pt.4-1981

适用范围: 本标准（第四部分）规定了晶体管特性的测量方法。

IS 4400 Pt.4-1981相似标准

IS 4400 Pt.10-1983 半导体器件的测量方法第10部分场效应晶体管 IS 3715 Pt.4-1971 半导体器件的字母符号第 IV 部分晶闸管 SJ/T 11226-2000 电子元器件详细规范.3DA505型L波段硅脉冲功率晶体管 SJ/T 11225-2000 电子元器件详细规范.3DA504型S波段硅脉冲功率晶体管 SJ/T 11227-2000 电子元器件详细规范.3DA98型NPN硅高频大功率晶体管

推荐

Agilent B1500A 半导体器件参数分析仪/半导体表征系统主机

主机和插入式模块能够表征大多数电子器件、材料、半导体和有源/无源元器件。 B1500A 半导体参数分析仪的模块化体系结构使其可以根据需要灵活升级。可以在 CV 和 IV 测量之间快速切换，无需重新连接线缆。能够捕获其他传统测试仪器无法捕获的超快速瞬态现象。能够检测 1 kHz 至 5 MHz 范围内的多频交流电容测量值。配有直观的 15 英寸触摸屏界面，无需借助外部的个人电脑，即可进行数据分析。...

Keysight B1500A 半导体器件参数分析仪

Keysight B1500A 半导体器件参数分析仪该仪器是一款具有 10 插槽配置的模块化仪器，可支持 IV 和 CV 测量及快速高电压脉冲测量。它采用常见的 Microsoft ® Windows ® 用户界面，可支持 Agilent EasyEXPERT 软件。该软件为器件表征提供更直观的、面向任务的新方法。...

【新品发布】半导体器件测试助手“挚盒TFT-IV”～来啦！

本产品电压扫描范围大，电流量测范围广，分辨率高，可量测pA级别电流变化，非常适合半导体器件（MOS管、薄膜晶体管、光电二极管等）电性测量与表征，可用于生物医疗检测、便携式电子产品开发、运动健康监测等场景。...

有机双极晶体管登上最新Nature！

（2）数值模拟阐明了晶体管的工作原理并提出了进一步优化的路线。（3）对器件运行的仔细分析使得可以直接测量任何有机半导体中少数载流子的扩散长度。04【数据概览】图1 OBJT的运行：a.OBJT的垂直堆栈配置；b. OBJT中的有源和寄生电流以及横向几何参数的定义；c. 偏振显微镜下的OBJT器件；d. 在基底电极顶部沉积阻挡层的OBJT器件的传输特性曲线；e. （d）中器件的相应差分放大率；f....

IS 4400 Pt.4-1981半导体器件测量方法第 IV 部分晶体管