BS EN 60749-16:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.粒子冲击噪音探测(PIND)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Particle impact noise detection (PIND)


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标准号
BS EN 60749-16:2003
发布
2003年
发布单位
英国标准学会
当前最新
BS EN 60749-16:2003
 
 
被代替标准
00/203281 DC-2000 BS EN 60749:1999
IEC 60749 这一部分的目的是检测空腔器件内是否存在松散颗粒，例如陶瓷碎片、焊线片或焊球（颗粒）。 颗粒撞击噪声检测测试属于非破坏性测试。

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