BS EN 60749-16:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.粒子冲击噪音探测(PIND)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Particle impact noise detection (PIND)

BS EN 60749-16:2003 发布历史

BS EN 60749-16:2003由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2003-06-19，并于 2003-06-19 实施。

BS EN 60749-16:2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 17.140.20 机器和设备的噪声,31.080.01 半导体器分立件综合。

BS EN 60749-16:2003的历代版本如下：

• 2003年 BS EN 60749-16:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.粒子冲击噪音探测(PIND)

IEC 60749 这一部分的目的是检测空腔器件内是否存在松散颗粒，例如陶瓷碎片、焊线片或焊球（颗粒）。 颗粒撞击噪声检测测试属于非破坏性测试。

标准号

BS EN 60749-16:2003

发布

2003年

发布单位

英国标准学会

当前最新

BS EN 60749-16:2003

 

 

被代替标准

00/203281 DC-2000 BS EN 60749:1999

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