BS EN 60749-5:2003由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2003-06-18,并于 2003-06-18 实施。
BS EN 60749-5:2003 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749的这一部分提供了稳态温度和湿度偏置寿命测试,用于评估非气密封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。 注:本试验总体上符合IEC 60068-2-3(已撤回),但由于半导体的特殊要求,采用以下文本。 该测试方法被认为是破坏性的。 注:1 IEC 60068-2-3,环境测试 - 第 2 部分:测试 - 测试 Ca:湿热稳态。
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