BS EN 60749-5:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.稳态温度湿度偏差寿命试验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Steady-state temperature humidity bias life test
2017-07
- 标准号
- BS EN 60749-5:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 替代标准
- BS EN 60749-5:2017
- 当前最新
- BS EN 60749-5:2017
- 被代替标准
- 00/203277 DC-2000 BS EN 60749:1999
- 适用范围
- IEC 60749的这一部分提供了稳态温度和湿度偏置寿命测试，用于评估非气密封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。 注：本试验总体上符合IEC 60068-2-3（已撤回），但由于半导体的特殊要求，采用以下文本。 该测试方法被认为是破坏性的。 注：1 IEC 60068-2-3，环境测试 - 第 2 部分：测试 - 测试 Ca：湿热稳态。