DIN EN 60749-5:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003); German version EN 60749-5:2003
- 标准号
- DIN EN 60749-5:2003
- 发布
- 2003年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 替代标准
- DIN EN 60749-5:2018
- DIN EN 60749-5 E:2016-12
- 当前最新
- DIN EN 60749-5:2018
- DIN EN 60749-5:2018-01
- 被代替标准
- DIN EN 60749:2002 DIN EN 60749-5:2002
- 适用范围
- This part of DIN EN 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
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