SIS SS IEC 759:1986
核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序

Nuclear instrumentation —Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 SIS SS IEC 759:1986 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

 

标准号
SIS SS IEC 759:1986
发布
1986年
发布单位
SE-SIS
当前最新
SIS SS IEC 759:1986
 
 

SIS SS IEC 759:1986相似标准

CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序 KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序 ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序 IS 12737-1988 半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序 KS C IEC 60759:2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序

推荐

泵吸静电法测氡仪介绍

性能：    2017型测氡仪是采用高分辨率金硅面垒型半导体射线探测器，进行氡气测量的智能辐射防护检测仪表。该仪器能满足国家标准 GB50325-2010 《民用建筑工程室内环境污染控制规范》和国家标准 GB/T18883-2002《室内空气质量标准》及JJG 825-2013 《测氡仪检定规程》。...

成分分析的四大神器—XRF、ICP、EDX和WDX

能量色散X射线谱仪(EDS)　　EDS是能量色散X射线谱仪，简称能谱仪，常用作扫描电镜或透射电镜的微区成分分析。利用发射出来的特征X射线能量不同而进行的元素分析，称为能量色散法。X射线能谱仪的主要构成单元是Si（Li）半导体检测器，即锂飘移硅半导体检测器和多道脉冲分析器。目前还不能用于分析超轻元素（O、N、C等）。...

能量色散谱仪

能谱图经计算机进行校正，然后显示出来，其形状与波谱类似，只是横座标是光子的能量。图1-11 用放射性同位素fe55照射Si-PIN探测器得出的谱图图1-12 典型的多元素谱图能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素（图1-12）。因此，分析速度快。另一方面，由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。...

能量色散谱仪的概述和特点

另一方面，由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外，能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构，因而工作稳定，仪器体积也小。缺点是能量分辨率差，探测器必须在低温下保存。对轻元素检测困难。...

SIS SS IEC 759:1986 中可能用到的仪器设备

X射线能谱仪(EDS) X射线散射仪 过程质谱/在线质谱 在线测厚仪 其它在线仪器仪表 VOC检测仪/TVOC监测仪 辐射仪/射线检测仪 恶臭测定仪 半导体专用检测仪器设备 危险气体检测 圆度仪


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号