GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分;第1篇：半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
Semiconductor Devices Integrated Circuits Part11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
GBT19403.1-2003, GB19403.1-2003
GB/T 19403.1-2003 中，可能用到以下仪器
- 标准号
- GB/T 19403.1-2003
- 别名
- GBT19403.1-2003
GB19403.1-2003 - 发布
- 2003年
- 采用标准
- IEC 60748-11-1:1992 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 19403.1-2003
- 进行内部目检的目的是检验集成电路的内部材料、结构和工艺，验证与适用的规范要求的一致性。 通常应在封帽或密封之前对器件进行100%内部目检。以发现可能导致器件在正常使用时失效的内部缺陷并剔除相应器件。本试验也可按抽样方式在封帽之前使用，以确定承制方对半导体器件质量控制和操作程序的有效性。
GB/T 19403.1-2003相似标准
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