IEC 60749-9:2002/COR1:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的持久性

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

被代替

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标准号

IEC 60749-9:2002/COR1:2003

发布

2003年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749-9:2017

当前最新

IEC 60749-9:2017

 

 

适用范围

这是 IEC 60749-9-2002 的技术勘误 1（半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 9 部分：标记的持久性）

IEC 60749-9:2002/COR1:2003相似标准

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