ISO 18756:2003
细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用弯曲时的表面裂纹(SCF)法测定室温下块体陶瓷的断裂韧性
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Determination of fracture toughness of monolithic ceramics at room temperature by the surface crack in flexure (SCF) method
ISO 18756:2003 发布历史
ISO 18756:2003由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2003-12。
ISO 18756:2003 在中国标准分类中归属于: Q32 特种陶瓷，在国际标准分类中归属于: 81.060.30 高级陶瓷。
ISO 18756:2003 发布之时，引用了标准
- ISO 14704:2000 精细陶瓷(高级陶瓷、高技术陶瓷) 室温下块体陶瓷弯曲强度的试验方法
- ISO 3611:1978 外径千分尺
ISO 18756:2003的历代版本如下：
- 2003年 ISO 18756:2003 细陶瓷(高级陶瓷、高级工业陶瓷).用弯曲时的表面裂纹(SCF)法测定室温下块体陶瓷的断裂韧性
本国际标准描述了一种测试方法，涵盖通过表面弯曲裂纹（SCF）法测定整体陶瓷材料在室温下的断裂韧性。 本国际标准适用于整体陶瓷和晶须或颗粒增强陶瓷，这些陶瓷被认为是宏观均匀的。 它不包括连续纤维增强陶瓷复合材料。 该测试方法适用于具有平坦或上升的裂纹扩展阻力曲线的材料。 该方法与 ISO 15732 类似，只是预裂纹更小并且是通过不同的程序形成的。 对于具有平坦 R 曲线的材料，这些方法应产生相似或相同的结果。 注：本试验方法通常适用于断裂韧性小于约10 MPa·m的陶瓷材料。 对于断裂韧性较大的材料或软（低硬度）材料（例如某些氧化锆）或多孔陶瓷，用努氏压头可能难以形成预裂纹。
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