ASTM F744M-97
数字集成电路的干扰用剂量阈值测量的标准试验方法(米制)

Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits

被代替

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标准号

ASTM F744M-97

发布

1997年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM F744M-97(2003)

当前最新

ASTM F744M-16

 

 

适用范围

1.1 本测试方法涵盖静态工作条件下引起数字集成电路干扰的辐射剂量率阈值水平的测量。辐射源是闪光 X 射线机 (FXR) 或电子直线加速器 (LINAC)。
1.2 测量精度取决于辐射场的均匀性以及辐射剂量测定和记录仪器的精度。
1.3 如果被测集成电路吸收的总辐射剂量超过某个预定水平，则该测试对于进一步的测试或本测试以外的目的可能是破坏性的。由于该水平取决于集成电路的类型和应用，因此测试各方必须就具体值达成一致（6.9）。
1.4 本测试方法包括设置、校准和测试电路评估程序。
1.5 本测试方法不包括批次鉴定和抽样程序。
1.6 由于不同设备类型的响应存在差异，本测试方法中未给出任何特定测试的初始剂量率，但必须由测试各方商定。
1.7 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。有关更具体的危险说明，请参阅 7.7.2。