但这样的结构超出了低温透射电子显微镜的观测范围,光学和荧光显微镜方法要更加适用。值得一提的是共焦激光扫描显微镜(CLSM) 在近年来获得了很大的改进,荧光纳米微粒可借助其很好地成像。纳米微粒所形成的具若干微米直径的巨囊体如图4 所示,通过扫描处理可以重建囊状体的三维结构,从而更加准确地测定其空间分配。图4....
目前主要带有聚乙二醇高分子的纳米微粒涂层,具有良好的溶解度,且其水溶液具稳定性,由此可以改变其高分子涂层的厚度,在较低的涂层厚度时其稳定性也随之降低,以致纳米微粒出现聚集倾向,通过控制涂层厚度便可控制纳米微粒的聚集。 图3. 采用低温透射电子显微镜摄制的以单个和呈链状缔合的纳米微粒图像,高分子涂层厚度由A到C递减。...
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。 无损涂层测厚仪分为磁性和涡流两种,也有磁性涡流二合一两用型的。常用于测量底材是金属的表面镀层的厚度,所以也叫做镀层测厚仪。...
多功能穿透涂层超声波测厚仪XCX-109应用范围: 可以测量金属材质、管道、压力容器、板材(钢板、铝板)、塑料、铁管、PVC管、玻璃等其他特殊材料的厚度;也可以测量工件表面有油漆层等带涂层的材料;也应用于制作业、金属加工业、化工业、商检业等检测领域。...
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