ASTM E1382-97
用半自动和自动图象分析法测量平均粒度的标准测试方法

Standard Test Methods for Determining Average Grain Size Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis


 

 

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标准号
ASTM E1382-97
发布
1997年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E1382-97(2004)
当前最新
ASTM E1382-97(2023)
 
 
适用范围
1.1 这些测试方法用于通过测量晶粒截距长度、截距计数、交叉计数、晶界长度和晶粒面积来确定晶粒尺寸。
1.2 这些测量是通过半自动数字化平板电脑或使用显微镜产生的晶粒结构图像进行自动图像分析来进行的。
1.3 这些测试方法适用于任何类型的晶粒结构或晶粒尺寸分布,只要晶粒边界可以通过蚀刻和后续图像处理(如果需要)清晰地描绘出来。
1.4 这些测试方法适用于其他粒状微观结构的测量,例如细胞结构。
1.5 本标准仅涉及推荐的测试方法,其中的任何内容均不应被解释为定义或建立测试材料的可接受性或适用性的限制。
1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
1.7 各节按以下顺序出现: 节 节范围 1 参考文件 2 术语 3 定义 3.1 本标准特有术语的描述 3.2 符号 3.3 测试方法概述 4 意义和用途 5 干扰 6 仪器 7 取样 8 测试样品 9 样品制备10 校准 11 程序:半自动数字化平板电脑 12 截距长度 12.3 截距和交叉计数 12.4 晶粒计数 12.5 晶粒面积 12.6 ALA 晶粒尺寸 12.6.1 两相晶粒结构 12.7 程序:自动图像分析 13 晶界长度 13.5 交叉计数 13.6 平均弦(截距)长度/场 13.7 单个弦(截距)长度 13.7.4 晶粒计数 13.8 平均晶粒面积/场 13.9 单个晶粒面积 13.9.4 ALA 晶粒尺寸 13.9.8 两相晶粒结构 13.10 结果计算 14 测试报告 15精度和偏差 16 非等轴晶粒结构样品的晶粒尺寸 A1 正确和不正确的晶界描绘示例 A2

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