ASTM B588-88(2006)
用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法

Standard Test Method for Measurement of Thickness of Transparent or Opaque Coatings by Double-Beam Interference Microscope Technique


标准号
ASTM B588-88(2006)
发布
1988年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM B588-88(2010)
当前最新
ASTM B588-88(2010)
 
 
引用标准
ASTM B504
适用范围
涂层的厚度通常对其性能至关重要。对于某些涂层-基体组合,干涉显微镜方法是测量涂层厚度的可靠方法。本测试方法适用于规范验收。
1.1 本测试方法涵盖利用双光束干涉显微镜测量透明金属氧化物和金属涂层的厚度。
1.2 该测试方法要求样品表面或多个表面足够镜面形成可识别的条纹。
1.3 本测试方法可用于非破坏性地测量 1 至 10 m 厚的透明涂层,例如铝上的阳极涂层。该测试方法破坏性地用于0.1至10m厚的不透明涂层,通过剥离一部分涂层并测量涂层和暴露的基材之间的台阶高度。剥离法也可用于测量铝上 0.2 至 10 m 厚的阳极氧化膜。
1.4 当该技术包括完整的技术时,本测试方法可用作测量铝或金属涂层阳极氧化膜厚度的参考方法。剥离一部分涂层而不侵蚀基材。对于铝材上的阳极氧化膜,厚度必须大于0.4m;不确定度可高达 0.2 m。对于金属涂层,厚度必须大于0.25m;不确定度可高达 0.1 m。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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