ASTM E1382-97(2004)
用半自动和自动图象分析法测量平均粒度的标准测试方法

Standard Test Methods for Determining Average Grain Size Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis

被代替

ASTM E1382-97(2004) 发布历史

ASTM E1382-97(2004)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1997。

ASTM E1382-97(2004) 在中国标准分类中归属于: J04 基础标准与通用方法。

ASTM E1382-97(2004)的历代版本如下：

• 2023年 ASTM E1382-97(2023) 使用半自动和自动图像分析测定平均粒度的标准试验方法
• 1997年 ASTM E1382-97(2015) 采用半自动和自动图象分析法测定平均粒度的标准试验方法
• 1997年 ASTM E1382-97(2010) 用半自动和自动图象分析测量平均粒度的标准试验方法
• 1997年 ASTM E1382-97(2004) 用半自动和自动图象分析法测量平均粒度的标准测试方法
• 1997年 ASTM E1382-97 用半自动和自动图象分析法测量平均粒度的标准测试方法

这些测试方法涵盖了确定平均晶粒尺寸以及晶粒截距长度或晶粒面积分布的程序，适用于具有等轴或变形晶粒形状、具有均匀或双相晶粒尺寸分布、以及单相或多相的多晶金属和非金属材料。晶粒结构。使用半自动数字化平板图像分析仪或自动图像分析仪进行测量。这些设备减轻了与手动测量相关的大部分繁琐工作，从而允许收集更大量的数据和更广泛的采样，这将产生比手动方法更好的晶粒尺寸统计定义。测试结果的精密度和相对准确度取决于一个或多个样品的代表性、样品制备的质量、晶界的清晰度（使用的蚀刻技术和蚀刻剂）、测量的晶粒数量或测量面积、检测误差晶界或晶粒内部、由于检测其他特征（碳化物、夹杂物、孪晶界等）而产生的误差、测量场的代表性以及编程误差。这些测试方法的结果可用于根据购买者和制造商之间商定的指导方针来验证材料的运输资格，比较不同的制造工艺或工艺变化，或为结构-性能-行为研究提供数据。

1.1 这些测试方法用于通过测量晶粒截距长度、截距计数、交叉计数、晶界长度和晶粒面积来确定晶粒尺寸。

1.2 这些测量是使用半自动数字化平板电脑或使用图像进行自动图像分析来进行的。

1.3 这些测试方法适用于任何类型的晶粒结构或晶粒尺寸分布，只要晶粒边界可以通过蚀刻和随后的图像处理（如果需要）清晰地描绘出来。

1.4 这些测试方法适用于其他颗粒状微观结构的测量，例如细胞结构。

1.5 本标准仅涉及推荐的测试方法，其中的任何内容均不应解释为定义或建立可接受性或适用性的限制。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

1.6 这些部分按以下顺序出现：

标准号

ASTM E1382-97(2004)

发布

1997年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E1382-97(2010)

当前最新

ASTM E1382-97(2023)

 

 

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